میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ابزاری برای مشاهده‌ی نمونه‌ها با ابعاد نانومتری و بررسی توپوگرافی سطح آنهاست.در میکروسکوپ‌های نیروی اتمی از نیروهای ضعیف نظیر نیروهای واندروالس و مویینگی بین نوک پروب و سطح نمونه برای تشکیل تصویر توپوگرافی از سطح نمونه استفاده می‌شود.میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) دستگاهی است که برای بررسی خواص و ساختارهای سطحی مواد در ابعاد نانومتری به کار می رود.در این میکروسکوپ هیچ محدودیتی برای بررسی سطح نمونه برخلاف میکروسکوپ‌های تونلی روبشی وجود ندارد.میکروسکوپ نیروی اتمی قادر به تصویر برداری با تفکیک مکانی اتمی از نمونه‌های رسانا، نارسانا و حتی نمونه‌های بیولوژیکی است.